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        德國蔡司多束掃描電子顯微鏡MultiSEM系列-華普通用

        型號:MultiSEM系列
        德國蔡司 MultiSEM 研究合作計劃全球速度非凡的掃描電子顯微鏡

        產品描述

        蔡司 MultiSEM 研究合作計劃

        全球速度非凡的掃描電子顯微鏡

        開啟電子顯微鏡速度的革新時代

        借助 MultiSEM 顯微鏡,您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?,F如今,您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數據采集流程,MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。

        使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM:您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。

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        以極高速度和納米分辨率采集圖像

        • 91 條電子束同時工作,擁有出色的成像速度。

        • 在幾分鐘內對1 mm2的區域成像,分辨率高達 4 nm。

        • 借助經優化的二次電子探測器,以低信噪比采集高襯度圖像。

        大型樣品的采集和成像

        • MultiSEM 配備有一個可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。

        • 對整個樣品成像并發現所有細節,助力于科研。

        • 自動采集方案可實現大面積成像 - 您將獲得精細的納米圖像,且不丟失可見信息。

        ZEN 成像軟件

        • 使用成熟的ZEN軟件簡便直觀地操控 MultiSEM,該軟件被應用于所有蔡司成像系統

        • 智能化自動調節程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像

        • 根據樣品的實際情況,快速輕松地創建復雜的自動采集流程

        • MultiSEM的ZEN 軟件可高速進行連續并行成像

        • 開放的API軟件接口可提供靈活快速的應用開發

        MultiSEM 同時運用了多條電子束(綠色:照明通路)和多個探測器。微調探測通路能夠收集大量的二次電子(SE)用于成像。與分光鏡組合使用,可讓二次電子信號到達(紅色:探測通路)多探測器陣列。每條電子束在樣品的一個位置執行同步掃描程序,以此獲得單個拼片圖像。電子束呈六邊形排列。通過合并所有圖像拼片生成整幅圖像。


        并行計算機設置程序用于快速記錄數據,確保整體高成像速度。圖像采集和工作流程控制在 MultiSEM 顯微鏡中完全獨立。

        多束掃描電子顯微鏡

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